产品用途：

MT系列显微透过率测试仪是自主研发的一款快速的材料透过率率测量系统，该仪器采用共焦光路设计、外置光源，能快速检测材料在各个波段下的透过率，光斑大小可调，测量波长范围宽，测量速度快，可以观察测量光斑在物体上的位置，对焦方便，操作简单。显微透过率测试仪结合了透过率测量技术和显微镜技术，最小光斑可达0.1mm，非常适用于测量手机盖板IR孔、返回键等微小区域的透过率。

技术参数：

1. 产品名称：显微透过率测试仪

2. 型号：MT-1100

3. 探测器：Hamamatsu背照式2D-CCD

4. 检测范围：380-1100nm

5. 全波长同时测量

6. 信噪比（全信号）：450：1

7. 检测误差：<0.2%

8. 检测重复性：0.2%

9. 检出限：0.1%

10. 单次测量时间：<1秒

11. 操作系统/接口：Windows 7，Windows 8，Windows 10

12. 电源：220V-50Hz

13. 光斑大小连续可调，范围0.1mm~2.0mm

14. 测试波长范围：380nm~1100nm

15. 波长精度：1nm

16. 可测试全波段曲线

17. 便于对焦，底部有照明光源，可以清晰看到小孔的位置和光斑的位置，以及分割线的位置，便于定位和对焦

18. 外界光源干扰去除（无需在暗环境下测试）

19. 支持不同尺寸lens的测试，4.5inch~12inch，在样品台有XY方向的定位挡板，同类样品一次调节好位置之后可以连续放样品进行测试，只需对样品进行微调即可定位和对焦

20. 本仪器能快速测量各类平面光学元件的透射率，适合批量样片全检，方便的测量治具，简单调整一次后，大批量就无需人工对孔，即放即测，最高效率；

21. 最快捷的使用、最简单的操作、一键点击、数据直读、放片即测；

22. 宽范围精确检测400-1000nm光谱，各波段透光率都能显示，除实时全部光谱曲线直接显示外，更可直接显示500nm，550nm，850nm，900，940nm或自定义任意波长的透光率，同时显示设定波长范围的平均透光率、最大值和最小值，便于读数；

23. 可同时记录样品谱图，批量保存测量结果，加载已保存的测量数据，生成对比谱线，实现工艺对比；