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CubeX快速视角测试仪

产品时间:2022-11-15 09:35:26

简要描述:

使用ELDIM最新的专利技术,能在几秒的时间内测试出±60度视角内的所有光谱数据,角度分辨率为2.5。...

详细介绍

使用ELDIM最新的专利技术,能在几秒的时间内测试出±60度视角内的所有光谱数据,角度分辨率为2.5。

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技术



技术原理


多光谱角度映射

多光谱传感器位置


136

波长


390   - 730 纳米

视角

入射角

±60°


方位角

0   - 360°

工作距离


12.5   毫米

光斑尺寸


12   毫米

高分辨率光谱仪

类型 - 同轴光谱仪

同轴


分辨率 - 同轴光谱仪

2   纳米


光学分辨率 - 同轴光谱仪

10   纳米

性能

角度映射分辨率


角度精度

0.1°


亮度范围

0.1   - 100000 坎德拉每平方米

精度

接近传感器 / 设置精度

3   个飞行时间(TOF)传感器 / 0.5° 倾斜与俯仰精度


色度(x,y)精度

对于 A 类光源为 0.002


色度(x,y)重复性

0.0001


亮度精度

2%


亮度重复性

0.02%

节拍时间

全映射测量

典型小于 2 秒

使用条件

以太网

1   吉比特每秒


Wi   - Fi 和 USB


温度范围

10℃至 + 40℃


湿度范围

0   至   85% 非冷凝


重量

6.35   千克


外部尺寸(长 × 宽 × 高)

165   毫米   ×165 毫米 ×150 毫米


 


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