microLED（微型发光二极管）作为下一代显示技术的核心器件，其光学性能（如发光波长、亮度、纯度、均匀性）直接决定显示面板的画质表现。

光致发光（Photoluminescence, PL）测试是表征 microLED 光学性能、缺陷状态及材料质量的核心手段之一，通过 “激发 - 发光 - 检测” 的闭环。

无需电极接触即可快速评估器件特性，尤其适用于 microLED 阵列的批量筛选与研发阶段的性能优化。

借助于显微镜的荧光模块+TOPCON的SR-5100，我们可以实现MicroLED的PL光谱测试

组合实现BL测试

长通滤镜会阻挡激发光进入仪器，仪器测试得到的全部都是PL的信号